壹蘋新聞網 綜合報導
帶您快速了解新聞核心內容:隨著半導體製程進入更高密度節點,Fractilia強調隨機性誤差對良率的重大影響。Fractilia的技術如FILM透過精準隨機性量測,幫助電子產業縮小隨機性落差來提升量產成功率。隨機性需自設計階段考量,才能減少生產延誤與損耗。

重點整理如下:
  • 隨機性落差是電子產業提升量產成功的瓶頸,需縮小以促成技術突破。
  • Fractilia通過FILM技術能有效測量隨機性誤差而不需新增設備。
  • 隨著進入更先進製程,隨機性誤差對良率和效能的影響顯著增加。
  • 工程設計需從設計初期考慮隨機性,加強物理建模與預測。
  • 亞太地區對Fractilia的隨機性控制技術需求上升,顯示市場需求增長。
Fractilia共同創辦人Edward Charrier與Chris A. Mack博士。呂承哲攝
Fractilia共同創辦人Edward Charrier與Chris A. Mack博士。呂承哲攝