果粉哭哭！外媒爆Apple雖已測試　Touch ID不太可能回歸iPhone

近日彭博的一份報告指出，雖然Apple已測試將Touch ID重新增加到iPhone，但近期不太可能真的發生。

IT之家報導，彭博的資深科技記者Gurman在最新一期Power On專欄中表示，Apple已經測試iPhone的螢幕下Touch ID，也考慮過在電源按鍵上添加Touch ID，類似iPad Air和iPad mini。

然而，儘管Apple已經進行兩個測試，但Gurman認為，至少在可預見的未來，這兩件事都不太可能見到曙光。

他認為，在過去幾年中，Apple內部一直討論將Touch ID帶回高階的iPhone，該公司已經測試螢幕下Touch ID，甚至考慮將其放在電源按鍵上。在這一點上，他相信Face ID將繼續存在，且Touch ID也不會回歸旗艦iPhone上，至少在可預見的未來不會。

Gurman認為，其中一種可能是，Apple將Touch ID移到低階iPhone的電源鍵上，例如iPhone SE，類似Apple在iPad的作法，但Gurman說他還沒有聽到這已經在進行中。

IT之家指出，多年來Face ID已有明顯改善，特別是現在已經在螢幕變橫也可以使用，也可以戴口罩使用，將Touch ID帶回iPhone的必要性似乎已明顯降低。

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